了解液體分散體系的膠體性質(zhì)對基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究和工業(yè)生產(chǎn)過程至關(guān)重要。Zeta電位（ζ電位）、動態(tài)遷移率或德拜長度在所有涉及電場中膠體顆粒運動的環(huán)節(jié)都是重要參數(shù)。醫(yī)藥技術(shù)中的分離工藝，金屬和陶瓷工業(yè)的噴涂和成型技術(shù)都是這樣的例子。另一方面，分散體系的（耐）沉淀/凝聚或浮油穩(wěn)定性及流動性和加工性能也都與這些參數(shù)密切相關(guān)。

光學(xué)方法如微電泳或激光多普勒法必須大倍數(shù)稀釋分散體系，因此這種表征不是為工藝過程服務(wù)的。另一方面，表面電位在極大程度上由周圍介質(zhì)決定，而稀釋會改變顆粒周圍環(huán)境。此外，對于高密度顆粒，顆粒的沉降會干擾電泳測量和高電導(dǎo)率體系的流體流動。與此相反，電聲學(xué)方法能夠表征接近工藝的原濃樣品，且由已知的固體含量還可以進行比表面和比質(zhì)量滴定實驗。

下面從膠體化學(xué)的基礎(chǔ)理論開始，后面討論電聲法測定膠體參數(shù)的實際應(yīng)用。